能抵御金星热量的电子产品:氮化镓如何为太空探索带来变革

能抵御金星热量的电子产品:氮化镓如何为太空探索带来变革 金星探索与氮化镓在炙热的金星表面,温度可高达摄氏 480 度/华氏 900 度,足以融化铅。因此,金星对人类和机器来说都是一个荒凉的地方。科学家至今未能将漫游车送往金星表面的一个原因是,硅基电子设备无法在如此极端的温度下长时间工作。对于像金星探测这样的高温应用,研究人员最近转向了氮化镓,这是一种能承受 500 度或更高温度的独特材料。这种材料已被用于一些地面电子设备,如手机充电器和手机信号塔,但科学家们对氮化镓设备在超过 300 度的温度下的表现还没有很好的把握,而这正是传统硅电子设备的工作极限。在发表于《应用物理快报》(Applied Physics Letters)的一篇新论文中,来自麻省理工学院和其他大学的科学家团队试图回答有关这种材料在极高温下的特性和性能的关键问题。他们研究了温度对氮化镓器件中欧姆触点的影响。欧姆触点是半导体器件与外界连接的关键部件。研究人员发现,极端温度并没有对氮化镓材料或触点造成明显的降解。他们惊讶地发现,即使在 500 摄氏度的高温下保持 48 小时,触点的结构仍然完好无损。高温电子技术的未来发展方向了解触点在极端温度下的性能,是该研究小组朝着开发可在金星表面工作的高性能晶体管这一下一个目标迈出的重要一步。这种晶体管也可用于地球上的电子设备,如提取地热能或监测喷气发动机内部。"晶体管是大多数现代电子产品的核心,但我们不想直接制造氮化镓晶体管,因为可能会出现很多问题。我们首先要确保材料和触点能够存活,并弄清楚它们在温度升高时会发生多大变化。我们将根据这些基本材料构件来设计我们的晶体管,"该论文的第一作者、电气工程与计算机科学(EECS)研究生约翰-尼鲁拉(John Niroula)说。他的合著者包括:谢青云(Qingyun Xie)博士(24岁)、袁梦阳(Mengyang Yuan)博士(22岁)、电子工程与电子科学系研究生Patrick K. Darmawi-Iskandar和Pradyot Yadav、材料科学与工程系研究生Gillian K. Micale、资深作者Tomás Palacios(Clarence J. LeBel教授、微系统技术实验室主任、电子研究实验室成员)以及合作者、美国技术创新研究所的Nitul S. Rajput。LeBel 教授、微系统技术实验室主任和电子学研究实验室成员 Tomás Palacios,以及合作者阿拉伯联合酋长国技术创新研究所的 Nitul S. Rajput、俄亥俄州立大学的 Siddharth Rajan、莱斯大学的赵玉吉和孟加拉国工程技术大学的 Nadim Chowdhury。耐热性能虽然氮化镓最近引起了广泛关注,但在科学家对其特性在不同条件下如何变化的理解方面,氮化镓仍比硅落后几十年。其中一个特性就是电阻,即电流通过材料时的阻力。设备的总电阻与其尺寸成反比。但是,像半导体这样的设备都有与其他电子元件相连的触点。接触电阻是由这些电气连接造成的,无论器件的大小如何,接触电阻都是固定不变的。过大的接触电阻会导致更高的功率耗散和更慢的电子电路工作频率。"特别是在尺寸变小的情况下,设备的性能往往会受到接触电阻的限制。"Niroula 说:"人们对室温下的接触电阻有比较深入的了解,但没有人真正研究过当温度升高到 500 度会发生什么。"测试方法和结果在研究中,研究人员利用麻省理工学院纳米研究所的设备制造了氮化镓器件,这种器件被称为转移长度法结构,由一系列电阻器组成。通过这些装置,他们可以测量材料和触点的电阻。他们使用两种最常见的方法为这些设备添加欧姆触点。第一种方法是在氮化镓上沉积金属,然后将其加热到 825 摄氏度,持续约 30 秒,这一过程称为退火。第二种方法是移除大块的氮化镓,然后使用高温技术在其位置上重新生长出高掺杂氮化镓,这一过程由俄亥俄州立大学的拉詹和他的团队领导。高度掺杂的材料含有额外的电子,有助于电流传导。Niroula 说:"在室温下,再生方法通常会降低接触电阻,但我们想看看这些方法在高温下是否仍然有效。"高温下的稳定性和性能他们通过两种方式对设备进行测试。他们在莱斯大学的合作者(由赵领导)进行了短期测试,将设备放在高达 500 摄氏度的热卡盘上,并立即测量电阻。在麻省理工学院,他们将设备放入该小组之前开发的专用熔炉中,进行了更长时间的实验。他们将设备放置在炉内长达 72 小时,以测量电阻随温度和时间的变化情况。麻省理工学院纳米研究所(Aubrey N. Penn)和技术创新研究所(Nitul S. Rajput)的显微镜专家使用最先进的透射电子显微镜,观察如此高的温度如何在原子层面上影响氮化镓和欧姆触点。"我们原以为触点或氮化镓材料本身会显著退化,但我们发现情况恰恰相反。用这两种方法制成的触点似乎都非常稳定,"Niroula 说。虽然很难在如此高的温度下测量电阻,但他们的研究结果表明,即使在 500 度的高温下,接触电阻似乎也能保持稳定,持续约 48 小时。就像在室温下一样,再生过程带来了更好的性能。这种材料在熔炉中放置 48 小时后确实开始降解,但研究人员已经在努力提高其长期性能。其中一项策略是添加保护性绝缘体,使材料不直接暴露在高温环境中。微电子技术的未来前景今后,研究人员计划利用在这些实验中学到的知识开发高温氮化镓晶体管。"在我们小组,我们专注于创新的器件级研究,以推动微电子学的前沿发展,同时在从材料级到电路级的各个层次上采用系统的方法。在这里,我们一直深入到材料层面来深入理解事物。换句话说,我们通过设计、建模和复杂的制造,将器件层面的进步转化为电路层面对高温电子学的影响。在这一过程中,我们还非常幸运地与长期合作者建立了紧密的伙伴关系,"Xie 说。编译自/ScitechDaily ... PC版: 手机版:

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日本研究人员实现精确控制氮化镓基垂直腔面发射激光器的腔长 功率转换效率超过 20% 的氮化镓紫色表面发光激光器。资料来源:Tetsuya Takeuchi / 名城大学GaN-VCSEL 由两层被称为分布式布拉格反射镜 (DBR) 的特殊半导体反射镜组成,中间由有源 GaN 半导体层隔开,形成光谐振腔,激光就在其中产生。谐振腔的长度对于控制目标激光波长(即谐振波长)至关重要。迄今为止,已开发出两种基于氮化镓的 VCSEL 结构:一种是底部介质 DBR,另一种是底部氮化铝铟(AlInN)/氮化镓 DBR。这两种结构都能产生光输出功率超过 20 毫瓦、壁塞效率(WPE)超过 10%的 VSCEL。然而,AlInN/GaN DBR 的停止波长带宽较窄,因此 VCSEL 只能发射窄波长范围内的光。此外,传统的腔体长度控制方法需要对测试腔体层进行预实验,以确定其生长速度,这会导致 VCSEL 腔体的估计厚度和最终厚度之间存在误差。这种误差会导致共振波长超出 AlInN/GaN DBR 的窄停止带宽,从而严重影响性能。腔长控制的创新为了解决这个问题,在最近的一项研究中,日本名城大学材料科学与工程系教授竹内哲也领导的研究人员为基于氮化镓的 VCSEL 光腔开发了一种新的原位 腔长控制方法。通过利用原位反射率光谱测量精确控制氮化镓层的生长,研究人员实现了精确的腔长控制,与目标谐振波长的偏差仅为 0.5%。现在,他们进一步扩展了这一创新技术,并展示了完整 VSCEL 的腔长控制。竹内教授解释说:"VCSEL 的腔体不仅包含氮化镓层,还包含氧化铟锡 (ITO) 电极和五氧化二铌 (Nb2O5) 间隔层,而这些都无法通过相同的原位反射率光谱测量系统进行控制。在这项研究中,我们开发了一种精确校准这些附加层厚度的技术,从而实现了高效的 VCSEL。"他们的研究成果发表在《应用物理通讯》(Applied Physics Letters)杂志第124卷第13期上。附加层的校准技术为了校准附加层的厚度,研究人员首先在使用原位空腔控制生长的 GaN 测试结构上沉积了不同厚度的 ITO 电极和Nb2O5间隔层。鉴于原位反射率测量无法用于这些附加层,他们直接使用原位反射率光谱测量来评估这些测试空腔结构的共振波长。获得的共振波长发生了红移,即随着 ITO 和Nb2O5层厚度的增加,波长也随之增加。接下来,研究人员绘制了共振波长偏移与 ITO 和Nb2O5层 厚度的函数关系图,从而获得了有关其光学厚度的准确信息。他们利用这些信息精确校准了目标 VCSEL 共振波长的 ITO 层和Nb2O5层厚度。这种方法产生的共振波长控制偏差非常小,在 3% 以内,在光学厚度方面可与现场控制方法相媲美。最后,研究人员通过在利用原位 腔体控制技术生长的 VCSEL 腔体中加入调谐 ITO 电极和Nb2O5间隔层,制造出了孔径大小为 5 至 20 µm 的 GaN-VCSEL。这些 VCSEL 的峰值发射波长与设计共振波长的偏差仅为 0.1%。值得注意的是,得益于精确的腔长控制,5 微米孔径的 VCSEL 实现了 21.1% 的 WPE,这是一项重大成就。竹内教授总结说:"就像高精度的刻度尺可以制造精细的架子一样,精确地使用氮化镓层的原位厚度控制,结合ITO电极和Nb2O5间隔层的厚度校准,可以实现VCSEL的高度可控制造,是获得高性能和高可重复性的氮化镓基VCSEL的有力工具,可用于高效光电设备。"编译来源:ScitechDaily ... PC版: 手机版:

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日本开发在磁场下实现电阻开关效应的半导体器件 日本一个研究团队研制出一种半导体纳米通道器件,给这种器件施加磁场能使其电阻值发生高达250倍的变化。这种现象未来有望用于开发新型电子元器件等。相关论文已发表在国际学术期刊《先进材料》上。 新华社报道,日本东京大学近日发布公报说,该校研究人员领衔的团队研制出一种通道长20纳米的锗半导体纳米通道器件,它属于半导体两端器件,拥有铁和氧化镁双层结构的电极,还添加了硼元素。研究人员观察到,通过给这种器件施加磁场能使其表现出电阻开关效应,外加磁场还使其实现了高达250倍的电阻变化率。研究人员给这种现象取名为“巨磁阻开关效应”。 公报说,目前仅能在20开尔文(约零下253摄氏度)的低温环境下观测到这种“巨磁阻开关效应”。研究团队下一步将致力于提高“巨磁阻开关效应”出现的温度,以便将其用于开发新型电子元器件等。 电阻开关效应一般指,材料能够在外电场作用下在低电阻态和高电阻态之间可逆转换。基于电阻开关效应的电阻式随机存取存储器被视为最有竞争力的下一代非易失性存储器之一。 传统的动态随机存取存储器是利用电容储存电荷多少来存储数据,一大缺点是数据的易失性,电源意外切断时会丢失存储数据。而电阻式随机存取存储器是通过向器件施加脉冲电压产生电阻高低变化,以此表示二进制中的“0”和“1”,其存储数据不会因意外断电而丢失,是一种处于开发阶段的下一代内存技术。 论文第一作者、东京大学研究生院工学系研究科教授大矢忍接受新华社邮件采访时说,目前已有很多关于电阻开关效应的研究,但此前对电阻开关效应的“磁场依存性”关注较少。新成果将来有望在电子领域得到应用,特别是用于神经形态计算以及开发下一代存储器、超高灵敏度传感器等新型器件。 2024年4月5日 1:53 PM

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实验室中的内存解决方案可在高达600°C的温度下运行 有望在服务器中广泛应用 根据《自然电子学》(Nature Electronics)上发表的研究,基于铁电氮化铝钪(AlScN)的闪存盘可能会成为市场的下一代标准,这不仅是因为它的名字听起来很特别,还因为这种材料在温度下的可持续性。宾夕法尼亚大学的研究人员 Deep Jariwala 和 Roy Olsson 展示了一种存储器原型,即使在 600 摄氏度的高温下仍能正常工作,据说是目前市场上替代品的两倍。现在,更大的问题是,为什么首先需要这种内存解决方案。答案很简单。巨型计算系统集成了大量组件,会产生巨大的热能,这些热能会通过板载冷却解决方案、液体或空气散失。然而,由于内存设备的不稳定性,超出范围的温度会导致数据丢失和性能下降,这对于大型系统来说是难以承受的。因此,即使在高温条件下,板载内存也必须持续运行。Jariwala 说,他们的解决方案针对的是大规模人工智能系统,因为这些系统甚至可以在更恶劣的条件下运行。据报道,除了温度优势外,基于 AlScN 的内存设备在弥补中央处理器和内存之间数据传输效率低下的问题上也比传统产品更具优势。虽然碳化硅技术很有希望,但它的处理能力远不及硅处理器,因此无法在高温或任何恶劣的环境中进行高级处理和重数据计算,如人工智能。我们内存设备的稳定性可以让内存和处理更紧密地结合在一起,从而提高计算的速度、复杂性和效率。我们称之为"内存增强计算",并正与其他团队合作,为新环境下的人工智能奠定基础。- 宾夕法尼亚大学 Deep Jariwala这项研究确实表明,未来的内存标准可能会迅速发展,所使用的核心材料层也会发生根本性的变化,在这种情况下,AlScN 似乎是个不二之选,但现在下结论还为时尚早。 ... PC版: 手机版:

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